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    SPECTRUMA 高分辨率輝光放電光譜儀

    簡要描述:SPECTRUMA 高分辨率輝光放電光譜儀 GDA 650/GDA 150的成功推出, 意味著以CCD檢測器為代表技術的輝光放電光譜儀進入了新的高度。

    • 產品型號:GDA 650/GDA 150
    • 廠商性質:代理商
    • 更新時間:2022-04-11
    • 訪  問  量:2863

    詳細介紹

    品牌其他品牌價格區間100萬-150萬
    儀器種類進口應用領域醫療衛生,能源,建材

    SPECTRUMA 高分辨率輝光放電光譜儀GDA 650/GDA 150裝備有新一代的CCD固態檢測器,與高分辨率光學系統匹配。新一代的CCD檢測器不但具備傳統光電倍增管的低噪聲、寬動態范圍的特點,而且還具備優異的分辨力和全譜數據采集能力,特別適合同時需要高精度檢測和分析靈活性的用戶。

    高分辨率CCD光學系統使得GDA 650/GDA 150具備無限的擴展能力, 允許使用者在任何分析方法下任意擴展和增加任何分析通道。


    這種靈活性允許進行快速的基體總量和涂鍍層分析,所有元素,包括O,N,C等非金屬元素均可進行定量分析。


    在含量-深度測量中,分析深度可達200um以上, 層分辨率可達納米級。GDA 650/GDA 150也可進行基體總量分析,尤其對于復雜基體,具備優異的線性校準曲線。檢出限可達ppm級。


    GDA 650/GDA 150裝備有新一代的輝光激發光源,濺射直徑從1mm至8mm。采用通用樣品夾具(USU),也可進行小樣品和異形樣品的分析,無需更換特殊電極。


    GDA 650也可選裝配置脈沖式射頻光源(選裝件),用于分析非導體材料。


    采用脈沖式射頻光源后,可分析非導體、熱敏感樣品,如:陶瓷、玻璃、有機涂層、有機薄膜。還可選裝配置特殊樣品轉移室(選裝件),用于分析極薄的薄膜和在空氣中易氧化的薄膜。




    激發光源

    同一激發光源允許安裝直徑為1mm至8mm電極,從而保證穩定性和重復性


    -高效的樣品直接冷卻??芍苯臃治鰺崦舾袠悠?、極薄的金屬薄膜和有機薄膜。如可直接分析50um的不銹鋼薄膜


    -優化的氬氣流量控制,可以同時實現低檢出限和高深度分辨率


    -專門設計的自動清掃裝置,保證了高精度、高重復性測量大樣品分析厚度45mm,小厚度50um


    -*程序自動控制的直流光源(DC),電壓可高達1500V,電流250mA


    -*程序自動控制的射頻光源(RF),功率大150W,電壓、電流自動監控,實時等離子自動調節、脈沖工作模式(選裝件、僅GDA 650有效)


    -選裝件:自動進樣器,程序控制100位




    光學系統

    高性能CCD光學系統,光譜范圍120--800nm


    -光譜分辨率優于20pm(FWHM)


    -Paschen-Runge光學系統, 焦距400mm


    -全息原刻光柵,2400線/mm


    -光室恒溫控制,儀器穩定性優異


    -可無限制的配置分析通道,所有元素同時檢測


    -方便易操作的透鏡清潔,可立即進行分析


    -CCD檢測器的靈敏度可自動調節




    真空系統

    -全不銹鋼殼體,可充分保證痕量元素的分析,尤其對于N元素分析


    -光室真空采用二級旋轉葉片真空泵,噪音<50dB


    -單泵設計,同時運用于光源和光室


    -特殊的旋片真空泵,可大限度的減少C,H元素的污染


    -內置安全閥設計,以避免突然斷電對旋轉葉片泵的損害


    -選裝件:渦輪分子泵


    -選裝件:旋轉葉片真空泵可用無油真空泵替代




    WinG DOES軟件

    -WindowsXP或更高平臺運行


    -使用界面簡單、易懂,分級管理和操作


    -功能強大


    -方法建立簡便,在線指導


    -校準樣品管理,*樣品添加


    -多種校準模式


    -基體總量元素測量校準


    -QDP定量分析校準


    -用戶定制測量報告模式


    -數據處理和再處理功能


    -多種格式數據輸出


    -分析過程中界面語言切換




    應用

    -熱處理


    準確測量所關心元素的含量-深度分布,定性、定量檢測表面污染物、夾雜物和物相比例


    -涂鍍層


    可獲得涂鍍層完整的化學組分信息、層厚度,元素含量-深度分布。非導體涂鍍層,如:油漆、釉等可采用RF光源分析


    -硬質合金層


    快速分析硬質合金層和熱處理工件的滲層化學組分


    -陶瓷


    采用RF光源可準確可靠的測量


    -化學組分

    準確測量化學元素含量


    高精度、高重復性檢測


    快速分析:<60s


    可分析從H至U的所有元素, 檢測范圍從ppm至100%


    -太陽能電池薄膜


    檢測太陽能光伏電池薄膜中化學元素含量分布,如:Cu(In,Ga)Se,采用RF光源可準確可靠的測量



    輝光放電光譜儀主要應用領域

    -汽車制造及零部件


    -金屬加工、制造


    -冶金


    -航空、航天


    -電子工業


    -玻璃、陶瓷


    -表面處理:化學氣相沉積、物理氣相沉積等


    -電鍍


    -光伏電池、鋰電


    -科學研究

     

     

    SPECTRUMA 高分辨率輝光放電光譜儀 GDA 650/GDA 150規格

    電源

    230V/50Hz/16A

    工作氣體

    >99.999%含量-深度測試和H,N,O檢測

    >99.995%基體檢測

    氬氣消耗

    0.05L/min, 待機狀態

    ~0.2L/min, 測量狀態

    工作環境溫度

    15℃to28℃

    相對濕度

    20%to80%

    外觀尺寸

    1250mmx1440mmx650mm

    重量

    約210kg

     

     

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